公司新聞
電路板故障檢測(cè)儀
電路板故障測(cè)試儀是一種性能優(yōu)良、操作簡(jiǎn)單、經(jīng)濟(jì)**的電路在線維修測(cè)試儀器，能夠在線檢測(cè)**類型的故障；并將定位到集成電路、元件、端口或電路結(jié)點(diǎn)上；電路在線維修測(cè)試儀，可以**改善工作效率，提高故障檢出率，讓維修工作變的**、快捷、準(zhǔn)確。
產(chǎn)品特點(diǎn)
雙處理器，集成16位的下位機(jī)，擁有*立的CPU系統(tǒng)，不受計(jì)算機(jī)Windows分時(shí)特性的影響，*立運(yùn)行
標(biāo)準(zhǔn)的USB2.0通訊接口，與計(jì)算機(jī)通訊、快速、便捷，支持熱插拔；有并口機(jī)型可供選擇
穩(wěn)定運(yùn)行于*新的Windows Viste/XP/NT系統(tǒng)內(nèi)， 測(cè)試儀軟、硬件與計(jì)算機(jī)同步發(fā)展延伸
雙探棒/雙板直接對(duì)比測(cè)試，適用于相同電路板診斷測(cè)試
產(chǎn)品
后驅(qū)動(dòng)（Backdoor）：引進(jìn)美國(guó)后驅(qū)動(dòng)隔離，用來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)字器件之間在線（In-circuit）的隔離
自適應(yīng)測(cè)試：自動(dòng)識(shí)別被測(cè)試電路的自身連接情況并自動(dòng)修改相應(yīng)的測(cè)試代碼，確立測(cè)試條件，測(cè)試的準(zhǔn)確性
數(shù)字器件的閾值電平可調(diào)：在工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)值下可以通過(guò)測(cè)試，逐步提高門檻到限值，可發(fā)現(xiàn)器件參數(shù)型故障（軟故障）
ASA（Analog Signature Analysis）模擬特征分析：引入ASA用來(lái)解決端口模擬特征曲線故障診斷分析測(cè)試
三端器件（三管、穩(wěn)壓管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管等）的測(cè)試：引入八種觸發(fā)脈沖與掃描信號(hào)同步測(cè)試三端器件
電容C、電阻R、電感L定性定量的測(cè)試：在**的掃描電壓、電流、頻率下可測(cè)試電容量（阻抗、電感量）及漏電阻值
對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)圖形化顯示、開啟計(jì)算機(jī)聲音提示功能：當(dāng)測(cè)試在允許的誤差范圍內(nèi)，系統(tǒng)將聲音提示以降低工作強(qiáng)度
自動(dòng)識(shí)別靈敏度調(diào)整（自動(dòng)選檔功能）：自動(dòng)識(shí)別調(diào)整測(cè)試輸入阻抗，匹配*的測(cè)試參數(shù)，以降低操作難度
參數(shù)指標(biāo)
數(shù)字通道：40+8路（其中8路數(shù)字通道是總線隔離通道，是用來(lái)隔離數(shù)字電路里總線競(jìng)爭(zhēng)情況的通道）
模擬通道：40路（40路模擬單通道屬性，可支持雙探棒直接對(duì)比測(cè)試，網(wǎng)絡(luò)提取可同時(shí)提取2個(gè)20腳的器件）
其它通道：2路探棒掃描通道、2路脈沖觸發(fā)通道（用來(lái)測(cè)試分立元件、端口、結(jié)點(diǎn)、集成塊、三端、兩端器件等）
測(cè)試范圍：TTL、COMS、DRIVER、SIEMENS、RUSSIA常用5V邏輯器件、存儲(chǔ)器EPROM、RAM、LSI（測(cè)試器件功能故障）
**的電路結(jié)點(diǎn)、端口、金手指；**功能已知未知LSI、貼片SOIC、方形PLCC器件的管腳（測(cè)試器件端口故障）
數(shù)字信號(hào)： 驅(qū)動(dòng)電平幅度：5V系列邏輯電平（高電平>3.5V、低電平< 0.8V ）； 后驅(qū)動(dòng)電流>200mA
測(cè)試速度：分1Ktv/S、5Ktv/S、20Ktv/S、45Ktv/S四檔可選； 在線環(huán)境識(shí)別11種狀態(tài)
閾值電平：TTL（緊、松），COMS（緊、松）、自定義閾值電平可選可調(diào)；加電延遲時(shí)間7檔可選
手動(dòng)加電/程控電源可選
程控外供輸出電源：5V/4A
6、模擬信號(hào)：
波形：正弦波/三角波/鋸齒波
波形失真度：<2%
掃描電壓：±1V～±28V內(nèi) 以0.5V 的增量可調(diào)
頻率：1Hz～16KHz內(nèi)，30檔可選
輸出阻抗：100Ω/1KΩ/10KΩ/100KΩ四檔可選
*大電流：150mA
觸發(fā)脈沖：8種觸發(fā)方式（6種與掃描信號(hào)同步）
脈沖幅度：±1V～±28V內(nèi) 以0.5V 的增量可調(diào)
測(cè)試功能：
數(shù)字邏輯器件在線（離線）功能測(cè)試：
數(shù)字邏輯器件在線（離線）型號(hào)識(shí)別：
數(shù)字邏輯器件在線（離線）循環(huán)老化測(cè)試：
存儲(chǔ)器PROM、RAM在線（離線）測(cè)試：
數(shù)字邏輯器件在線 狀態(tài)比較測(cè)試：
數(shù)字集成電路LSI 在線（離線）分析測(cè)試：
ASA端口模擬特征曲線測(cè)試：
分立元件、三端器件測(cè)試：
雙板/雙測(cè)試夾/雙探棒直接對(duì)比測(cè)試：
網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試：
輔助功能：
系統(tǒng)自檢與設(shè)置：
測(cè)試器件檢索：
元器件速查手冊(cè)：
數(shù)字邏輯器件擴(kuò)充庫(kù)平臺(tái)：
維修日記以：
后臺(tái)自動(dòng)生成記錄：
環(huán)境要求：
溫度：18℃-40℃
相對(duì)濕度：20%-80%
電源：?jiǎn)蜗?20V ±10%，50HZ
指標(biāo)
計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng)： 支持WIN98/WIN2000/WINXP/vista
數(shù)字測(cè)試通道：40通道，支持驅(qū)動(dòng)閾值電平 +5V
總線隔離數(shù)字通道：8通道，用來(lái)隔離掛在總線上的其它三態(tài)器件，避免由于總線競(jìng)爭(zhēng)干擾測(cè)試的準(zhǔn)確性
后驅(qū)動(dòng)電流：≥200 mA
測(cè)試速度：（1～45Ktv/S），4檔可選
在線測(cè)試提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種
數(shù)字器件功能施加測(cè)試時(shí)間： <26 mS
數(shù)字器件的閾值電平； TTL（緊、松）、CMOS（緊、松）、自定義閾值電平
測(cè)試器件庫(kù):TTL54/74、CMOS40/45、8000、9000、驅(qū)動(dòng)器、接口器件、RAM、EPROM、模擬開關(guān)、電壓比較器、俄羅斯庫(kù)、西門子庫(kù)（唯壹）
程控外供電源（自動(dòng)控制、自保護(hù)功能）： 5V/4A
電源加電延遲時(shí)間：（0.5～10）秒 7檔可選
模擬測(cè)試通道： 40路
測(cè)試探棒：2組
模擬信號(hào)掃描電壓幅度：±1V～±28V, 步距0.5V可調(diào)
VI分辨率：8～128點(diǎn)/周期(用示波器可測(cè))
輸出阻抗匹配：0.1KΩ / 1KΩ／10KΩ／100KΩ可選
ASA模擬特征分析測(cè)試顯示坐標(biāo):3種可選(VI /VT /VR)
模擬通道*大測(cè)試頻率:16KHZ
ASA(VI)測(cè)試頻率匹配:1HZ～16KHZ,共30檔可選
ASA雙板比較測(cè)試。
主要測(cè)試功能：
程控電源輸出功能： 提供+5V測(cè)試電源，程控加電，擁有自動(dòng)保護(hù)功能，，不用外接測(cè)試電源，使用方便；
電源機(jī)電式繼電器輸出控制：采用的機(jī)電式繼電器，與光電式比較，接觸電阻*小，約0.01～0.02Ω，其百**量的使用壽命，幾百毫秒的動(dòng)作時(shí)間足以滿足實(shí)際應(yīng)用要求。
數(shù)字邏輯器件在線功能測(cè)試： 測(cè)試器件庫(kù)龐大；測(cè)試范圍廣：TTL54/74、8000系列、9000系列、CMOS40/45、俄羅斯器件庫(kù)、西門子器件庫(kù)（唯壹）。
數(shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測(cè)試： 采用學(xué)習(xí)、比較的測(cè)試方式，能夠提取11種復(fù)雜的電路在線狀態(tài)，如開路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競(jìng)爭(zhēng)等等狀態(tài)，所以，對(duì)測(cè)試器件外電路的識(shí)別能力強(qiáng)，低檔測(cè)試儀一般只能識(shí)別2-3種 。
動(dòng)態(tài)總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能： 用于解除總線競(jìng)爭(zhēng)，保正測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件（如74LS373、74LS245、等）的準(zhǔn)確率，可提供8路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào)；
IC型號(hào)識(shí)別：
針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件，可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試，測(cè)試結(jié)果顯示出器件型號(hào)；對(duì)識(shí)別后的器件可直接進(jìn)行功能測(cè)試加以驗(yàn)證；
器件“離線”功能測(cè)試
庫(kù)器件**進(jìn)行“離線”功能測(cè)試，如：數(shù)字邏輯器件、存儲(chǔ)器、集成運(yùn)放、光電耦合器等器件；
LSI大規(guī)模集成電路在線功能測(cè)試：
可對(duì)：Z80、8255、等器件進(jìn)行功能測(cè)試；
LSI大規(guī)模集成電路在線狀態(tài)分析測(cè)試
可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見的LSI器件進(jìn)行狀態(tài)分析測(cè)試；
SRAM / DRAM讀寫存儲(chǔ)器在線測(cè)試
直接檢測(cè)存儲(chǔ)器芯片的好壞，該測(cè)試*需事先學(xué)習(xí)，有*立的測(cè)試器件庫(kù)，可采用在線、離線測(cè)試方式
EPROM在線直接讀取/比較測(cè)試：
可采取在線（離線）學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法，先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái)，保存到計(jì)算機(jī)上，再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試；測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上，并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。
器件循環(huán)測(cè)試功能：
該功能可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試，直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止，易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障（或稱為軟故障）；
測(cè)試夾自動(dòng)定位功能： 該功能可以將測(cè)試夾以正、反方向，對(duì)齊或不對(duì)齊**腳的方式夾在被測(cè)器件上而不影響測(cè)試結(jié)果，利于提高測(cè)試速度；
數(shù)字邏輯器件在線測(cè)試速度可選：
為了器件測(cè)試的準(zhǔn)確性、降低誤判率，滿足不同器件對(duì)測(cè)試速度指標(biāo)的不同要求，而設(shè)置了速度可選項(xiàng)；如：對(duì)負(fù)載能力弱的CMOS器件應(yīng)選較低速度測(cè)試，一些集成度高、編程復(fù)雜的器件須選擇較高速度測(cè)試。
數(shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)功能：
閾值電平是指判定器件輸出是邏緝１或邏輯０的門檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外，還可選自定義。閾值電平的選取要與被測(cè)器件的類型相**；在邏輯器件測(cè)試時(shí)，有時(shí)會(huì)遇到用閾值電平緊測(cè)試不通過(guò)，而用閾值電平松就能通過(guò)的現(xiàn)象，一般是器件的部分參數(shù)發(fā)生了變化，如驅(qū)動(dòng)能力下降,使用自定義可確定器件實(shí)測(cè)的閾值電平；
加電延遲可選功能：
被測(cè)電路板上的電源、地之間有濾波電容。濾波電容越大，充電時(shí)間越長(zhǎng)。該選擇是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后，需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開始進(jìn)行測(cè)試。缺省為0.5秒；
測(cè)試夾接觸檢查功能：該項(xiàng)功能主要解決當(dāng)測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不時(shí)，造成的測(cè)試誤判，如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三*漆打磨不干凈等；
瞬時(shí)復(fù)位電路控制功能：當(dāng)測(cè)試儀突然掉電，又突然上電的情況下，**造成測(cè)試儀內(nèi)部狀態(tài)混亂而帶來(lái)性問題；
聰能自定義功能測(cè)試平臺(tái)：
把測(cè)試儀的測(cè)試通道開放給用戶，由用戶對(duì)被測(cè)器件自行定義測(cè)試代碼，可以進(jìn)行功能測(cè)試，前提是用戶需要對(duì)器件工作原理有**的了解，或有被測(cè)器件的使用資料，適合有圖紙資料情況下的開發(fā)工作；
以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù)：
采用HNDDL語(yǔ)言（天惠電子自主開發(fā)的用于描述邏輯過(guò)程的語(yǔ)言，擁有自己的版權(quán)），自適應(yīng)完善；把擴(kuò)充程序直接開放給用戶，由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù)；
ASA（VI）模擬特征分析測(cè)試：
通過(guò)對(duì)器件端口進(jìn)行模擬特征分析測(cè)試方式（VI曲線學(xué)習(xí)/比較測(cè)試），可以發(fā)現(xiàn)器件端口型的故障（一般能占到維修當(dāng)中的80%左右）適用于數(shù)字器件、模擬器件、模擬數(shù)字混合器件（如AD、DA等），對(duì)器件的封裝形式也不受限制，可適應(yīng)于對(duì)**器件的測(cè)試；
ASA多種觀察坐標(biāo)顯示：
有三種顯示方式：VI/VT/VR，一般用VI坐標(biāo)觀察曲線，有人習(xí)慣上把ASA也叫成VI測(cè)試；
單端口（交叉）VI曲線分析測(cè)試：
對(duì)器件采取單端口測(cè)試方式；單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地阻抗特性曲線提??；
ASA 曲線雙探棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試：
使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試；當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí)，此種方法***；
ASA 曲線測(cè)試智能提醒功能：
當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí)，如果超差，儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音，引起使用者注意，該測(cè)試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類似于**表Beep的效果，提高了檢測(cè)效率，也**降低了勞動(dòng)強(qiáng)度；
ASA 測(cè)試曲線靈敏度可調(diào)：
當(dāng)ASA曲線走勢(shì)趨向于45度時(shí)，如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化，曲線就變化明顯，反映故障的觀察靈敏度就越準(zhǔn)確，曲線反映故障靈敏度與測(cè)試參數(shù)相關(guān)，適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到*靈敏的曲線；該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索出對(duì)故障較靈敏的那根曲線，**的提高了故障檢出率；