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JKSRPT-TT2硅材料測(cè)試儀_便攜式四探針測(cè)試儀
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JKSRPT-TT2便攜式四探針測(cè)試儀
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型號(hào)：JKSRPT-TT2
產(chǎn)地：
：中慧天誠
價(jià)格：面議
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服務(wù)專線
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010-59488880
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硅材料綜合測(cè)試儀是運(yùn)用四探針測(cè)量原理的多功能綜合測(cè)試裝置，它可以測(cè)量片狀、塊狀半導(dǎo)體材料的徑向和軸向電阻率，擁有較高的電阻率測(cè)試分辨率，可到0.001 歐姆.厘米”，能的分辨電阻率在0.002 歐姆.厘米以上的硅半導(dǎo)體材料型號(hào)。
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注：產(chǎn)品圖片僅供參考，具體請(qǐng)以實(shí)物為準(zhǔn)
產(chǎn)品價(jià)格僅供參考，具體請(qǐng)以訂單合同為準(zhǔn)
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硅材料綜合測(cè)試儀簡介：
便攜式四探針測(cè)試儀使用9V扣式電池供電。
具有電阻率及型號(hào)測(cè)試功能，適合分選型號(hào)，并能夠測(cè)試并顯示出電阻率的值。
預(yù)設(shè)樣片厚度，自動(dòng)修正，直讀電阻率。
便攜式四探針測(cè)試儀報(bào)警門限預(yù)設(shè)0-1.0，按0.1步進(jìn)，0不報(bào)警。
整機(jī)尺寸：65×25×130 mm
電 阻 率：0.001-100歐姆厘米。
測(cè)量精度：到百分位（即小數(shù)點(diǎn)后三位）
誤差范圍：<1歐姆厘米偏差一般不超過5%±2LSB
1.01-50歐姆厘米偏差一般不超過10%±2LSB
P/N型號(hào)：0.5歐姆厘米<電阻率<100歐姆厘米。
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http://www.ghitest.com/ProductShow_1605.html
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名稱：JKX-2008硅材
型號(hào)：JKX-2008
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名稱：MINIHI-09硅
型號(hào)：MINIHI-09
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名稱：DQZRT-100硅
型號(hào)：DQZRT-100
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名稱：JKXT-VI硅材料
型號(hào)：JKXT-VI
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名稱：NXTM-2B單晶P
型號(hào)：NXTM-2B
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名稱：NXTM-3C**多
型號(hào)：NXTM-3C
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名稱：NXTPT-VI便攜
型號(hào)：NXTPT-VI
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名稱：NXTR-1A/1B
型號(hào)：NXTR-1A/1B
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名稱：SHY-JSTZ-8
型號(hào)：SHY-JSTZ-8
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名稱：GDSKDY-1四探
型號(hào)：GDSKDY-1
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